Effect of measurement frequency on admittance characteristics in Al/p-Si structures with interfacial native oxide layer

Özdemir M. C., SEVGİLİ Ö., ORAK İ., TURUT A.

International Journal of Chemistry and Technology, cilt.3, sa.2, ss.129-135, 2019 (TRDizin)

• Yayın Türü: Makale / Tam Makale
• Cilt numarası: 3 Sayı: 2
• Basım Tarihi: 2019
• Doi Numarası: 10.32571/ijct.642886
• Dergi Adı: International Journal of Chemistry and Technology
• Derginin Tarandığı İndeksler: TR DİZİN (ULAKBİM)
• Sayfa Sayıları: ss.129-135
• Kütahya Sağlık Bilimleri Üniversitesi Adresli: Hayır