The Effect of Measurement Frequency on Dielectric Characteristics in Al/P-Si Structures with Interfacial Native Oxide Layer

---

Özdemir M. C., SEVGİLİ Ö., ORAK İ., TURUT A.

Journal of the Institute of Science and Technology, cilt.10, sa.1, ss.91-100, 2020 (TRDizin)

• Yayın Türü: Makale / Tam Makale
• Cilt numarası: 10 Sayı: 1
• Basım Tarihi: 2020
• Doi Numarası: 10.21597/jist.612518
• Dergi Adı: Journal of the Institute of Science and Technology
• Derginin Tarandığı İndeksler: TR DİZİN (ULAKBİM)
• Sayfa Sayıları: ss.91-100
• Kütahya Sağlık Bilimleri Üniversitesi Adresli: Hayır